เครื่องวิเคราะห์สารเคลือบผิว (XRF Coatings Analyzer) รุ่น FT230 ให้คุณทำงานง่ายและเร็วขึ้นจาก Hitachi High-Tech

Hitachi High-tech เปิดบทใหม่สำหรับวิเคราะห์การชุบและเคลือบผิวด้วย FT230 XRF Coatings Analyzer

อัปเดตล่าสุด 25 พ.ค. 2565
  • Share :
  • 815 Reads   

Hitachi High-Tech Analytical Science เปิดตัว FT230 XRF Coatings Analyzer ซึ่งเป็นเครื่องวิเคราะห์เอกซเรย์ฟลูออเรสเซนต์ สำหรับวิเคราะห์การชุบและเคลือบพื้นผิววัสดุ ที่จะมาสร้างบทใหม่ให้แก่สายการผลิต ช่วยให้การควบคุมคุณภาพทำได้อย่างรวดเร็วและง่ายขึ้นอย่างมีนัยสำคัญ 

Hitachi High-Tech Analytical Science บริษัทระดับโลกภายในเครือ Hitachi High Tech Group ขยายไลน์อัพผลิตภัณฑ์ด้านวิเคราะห์การชุบและการเคลือบ ด้วย FT230 XRF Coatings Analyzer ที่ได้รับการออกแบบใหม่เพื่อให้ก้าวทันกับสายการผลิตปัจจุบัน ทำให้การควบคุมคุณภาพเป็นไปอย่างรวดเร็วและเรียบง่าย ขจัดอุปสรรคเดิม ๆ ของการวิเคราะห์เอกซเรย์ฟลูออเรสเซนต์ ด้วย FT230 ช่วยยกระดับการวิเคราะห์ให้รวดเร็ว ลดข้อผิดพลาดที่มีค่าใช้จ่าย ช่วยให้ผู้ผลิตอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ ผู้ผลิตชิ้นส่วน ช่างตกแต่งผิวโลหะทั่วไป และโรงงานชุบพลาสติกได้รับการตรวจสอบชิ้นงานที่แม่นยำ 100% และตรงตามมาตรฐาน

ให้ XRF ตัดสินใจแทนคุณ

ทุกส่วนของ FT230 ถูกออกแบบเพื่อให้สามารถประหยัดเวลาในการวิเคราะห์ XRF โดยทั่วไปแล้ว เวลา 72% จะหมดไปกับการตั้งค่าเครื่อง ทำให้ผู้ปฏิบัติงานต้องเสียเวลาอย่างมากในขั้นตอนเตรียมการวัดและจัดการข้อมูลในการวิเคราะห์ชิ้นงาน

จากประสบการณ์ของผู้ใช้งาน FT230 ที่ได้รับการปรับปรุงอย่างมากด้วย “Find My Part™” คุณสมบัติการจดจำอัจฉริยะที่สามารถเลือกคุณสมบัติที่จำเป็นต่อการวัดแบบอัตโนมัติ ตามการวิเคราะห์และมาตรฐานการออกรายงาน เพื่อให้การวิเคราะห์ XRF ประหยัดเวลา และสามารถนำผลจากการวิเคราะห์ไปทำงานต่อได้รวดเร็วขึ้น อีกทั้งสามารถขยายการวิเคราะห์โดยใช้ฐานข้อมูลที่มีอยู่เพื่อให้ร้องรับชิ้นงานและลักษณะการวัดใหม่ ๆ ได้

ฉลาดยิ่งขึ้น

FT230 เป็นผลิตภัณฑ์รุ่นแรกที่ใช้ซอฟต์แวร์ FT Connect รุ่นใหม่ของ Hitachi นำเสนอส่วนที่ดีที่สุดของซอฟต์แวร์ SmartLink และ X-ray Station ที่มีอยู่ และเพิ่มฟังก์ชันการทำงานใหม่ เพื่อปรับปรุงความสามารถในการใช้งาน โดย FT Connect เปลี่ยนอินเทอร์เฟซแบบเดิม ซึ่งมีจุดที่ไม่ถูกใช้งานจำนวนมาก มาเป็นอินเทอร์เฟซที่โฟกัสเฉพาะส่วนสำคัญสำหรับการวิเคราะห์ XRF ด้วยตัวอย่างการวัดเชิงอุตสาหกรรมที่เด่นชัด และการแสดงผลที่ชัดเจน ช่วยให้การจัดตำแหน่งชิ้นงานสำหรับการวิเคราะห์ง่ายดายและเห็นผลยิ่งขึ้น

การจัดการข้อมูลสำหรับ Industry 4.0

ได้ผลลัพธ์ที่ต้องการทันท่วงที ด้วยคุณสมบัติการจัดการข้อมูลของ FT Connect ที่ยืดหยุ่น แสดงผลลัพธ์การวิเคราะห์บนจอภาพเพื่อให้ผู้ปฏิบัติการทำงานต่อได้อย่างรวดเร็ว รวมถึงเก็บบันทึกสำหรับเรียกดูในภายหลัง รองรับการส่งออกข้อมูลในรูปแบบสเปรดชีต หรือ JSON ที่รองรับการทำงาน SCADA, QMS, MES หรือ ERP ไปจนถึงการสร้างรายงานตามความต้องการสำหรับใช้ภายในหรือสำหรับลูกค้าได้อีกด้วย

การบำรุงรักษาที่ง่ายกว่า

นอกจากคุณสมบัติด้านความเสถียรของเครื่องมือ รวมถึงการตรวจสอบเครื่องมือตามปกติ และเครื่องมือตรวจสอบการสอบเทียบแล้ว ระบบวินิจฉัยของเครื่องยังให้ข้อมูลเพิ่มเติมเกี่ยวกับสถานะของเครื่องมือแก่ผู้ใช้ ซึ่งสามารถแชร์ให้กับทีมงานของ Hitachi ผ่าน ExTOPE Connect ได้โดยตรง ช่วยให้ผู้ใช้สามารถแชร์ข้อมูลได้อย่างรวดเร็วและปลอดภัย

วิเคราะห์ได้มากกว่าสารเคลือบผิว

FT230 ทำได้มากกว่าการวิเคราะห์สารเคลือบผิว ด้วยซอฟต์แวร์อันทรงพลังและ SDD ความละเอียดสูง ช่วยให้การสามารถคัดกรองชิ้นส่วนเพื่อให้เป็นไปตามข้อกำหนดและมาตรฐานว่าด้วยวัสดุเช่น RoHS ไปจนถึงการวิเคราะห์องค์ประกอบของวัสดุ รวมถึงน้ำยาอาบชุบ (Plating bath solutions) และโลหะอัลลอยด์ ทำให้ FT230 สามารถใช้ในการตรวจสอบและยืนยันองค์ประกอบทางเคมี ซึ่งเป็นส่วนสำคัญสำหรับการรับรองคุณภาพโลหะมีค่า (Precious Metal) เป็นอย่างมาก

ถูกต้องตั้งแต่ครั้งแรก

นาย Matt Kreiner ผู้จัดการฝ่ายผลิตภัณฑ์จาก Hitachi กล่าวว่า “FT230 เปลี่ยนแปลงวิธีทำงานของการวิเคราะห์ XRF ซึ่งในช่วงหลายทศวรรษที่ผ่านมา ผู้ใช้งานจำเป็นต้องจดจำ หรือค้นหาสูตรสำหรับการวัดชิ้นงาน และตัดสินใจชนิดของสารเคลือบ, ตำแน่งการวัด, ขนาดของจุด (Spot Size), เวลาการวัด, และมาตรฐานการออกรายงาน ซึ่งแม้ว่าจะมีระบบที่ช่วยให้ผู้ใช้งานสามารถเข้าถึงข้อมูลเหล่านี้ได้ผ่านการสแกนบาร์โค้ด หรือ QR โค้ด แต่ผู้ใช้งานก็จำเป็นต้องตัดสินใจด้วยตัวเอง ซึ่งการตัดสินใจนั้นอาจนำมาซึ่งข้อผิดพลาดได้ แต่ FT230 ทำให้ใช้งานได้อย่างรวดเร็วและเรียบง่ายอย่างมาก เพียงวางชิ้นงานลงบนแท่นแล้วเปิดเครื่อง จากนั้น Find My Part™ และเครื่องมืออื่น ๆ ก็จะทำหน้าที่ในกระบวนการที่เหลือด้วยตัวมันเอง  เนื่องจาก FT230 ถูกออกแบบเพื่อลดเวลา และเปลี่ยนกระบวนการตั้งค่าของ XRF ที่มีความซับซ้อนให้สะดวกและรวดเร็ว ลดข้อผิดพลาด ช่วยให้ผู้ใช้งานมีเวลาสำหรับทำงานที่มีมูลค่ามากขึ้น เพิ่มปริมาณการตรวจสอบได้โดยที่ใช้เวลาทำงานน้อยลงกว่าเดิม”

Hitachi High-Tech มีเครื่องวิเคราะห์มากมาย ตั้งแต่สำหรับวิเคราะห์การชุบและการเคลือบอย่างง่าย ไปจนถึงการใช้งานที่ซับซ้อนในคุณสมบัติที่เล็กที่สุด ซึ่ง FT230 ถูกออกแบบมาเพื่อให้ผู้ใช้งานสามารถวิเคราะห์ผิวเคลือบบนวัสดุได้อย่างมั่นใจตลอดการผลิต ตั้งแต่การตรวจสอบขาเข้า การควบคุมกระบวนการ ไปจนถึงการควบคุมคุณภาพขั้นสุดท้าย

สอบถามข้อมูลเพิ่มเติมได้ที่ 
Tel : 095-864-5594
Line : @mreportth


ชมคลิป FT230 XRF coatings analyzer

72% ของเวลาในการทดสอบ XRF หายไปในการตั้งค่า #FT230 #XRF #coatings #analyzer จาก #Hitachi High-tech #เครื่องวิเคราะห์สารเคลือบผิว เจเนอเรชันถัดไปที่ได้รับการออกแบบมาให้โปรแกรมการทดสอบง่ายขึ้นและเร็วขึ้น ด้วยการโฟกัสอัตโนมัติ การจดจำอัจฉริยะ และการเชื่อมต่อที่ทรงพลังสำหรับ #Industry4 #อุตสาหกรรม 4.0 #Mreport #onlinecontent


ที่มา : Hitachi High-Tech Analytical Science