PTSC เปิดตัวระบบการวัดเพลา Opticline ของ JENOPTIK ให้ความละเอียดสูง 1μm อัปเดตล่าสุด 27 มี.ค. 2567 Share : 1,558 Reads    PTSC เปิดตัวระบบการวัดเพลา Opticline ของ JENOPTIK สำหรับควบคุมคุณภาพระหว่างการผลิตที่ง่ายขึ้น วัดได้หลายมิติ ความละเอียดสูง 1μm PTSC เปิดตัว “เครื่องวัด Camshaft ระบบ Opticline C” วัดเพลาแบบออปติคัล จาก JENOPTIK #PTSC #Opticline #JENOPTIK #OpticalShaftMeasuring #MLaunch #TechDriven
PTSC เปิดให้บริการวัด วิเคราะห์ สอบเทียบ เครื่องจักร CNC ด้วย Renishaw QC20-W Ballbar & XL80 Laser Interferometer